长期泄漏电流会造成电池片载流子及耗尽层状态发生变化、电路中的接触电阻受到腐蚀、封装材料受到电化学腐蚀等问题，从而导致电池片功率衰减、串联电阻增大、透光率降低、脱层等影响组件长期发电量及寿命的现象。
什么是潜在诱导退化（PID）测试？
PID测试是对制造的模块进行的质量保证测试，以预测它们在不同条件下长时间的性能。对于太阳能组件的PID测试，将组件置于85°C的温度下，湿度约为85%，并在1000v负载下持续96小时。PID测试模拟组件暴露在的次电压和温度条件下的功率损耗。
如何进行潜在诱导退化（PID）试验？
为了进行测试，在两个金属电极之间放置了一组像模块一样的太阳能电池、聚合物箔和玻璃层堆栈。在加热底部（接地）电极的同时，在模块的上部电极上施加高正电压（电压相当于PID）。
