霍尔效应测试仪是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性的工具，用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数。
HMS-3000霍尔效应测量系统主要由恒电流源、范德堡法则终端转换器、低温（77K)测量系统及磁场强度输入系统组成，拥有研究半导体材料霍尔效应所有的部件和配置，是一套非常成熟的仪器系统。
可靠的精度及重现性
恒电流源（1nA~20mA)采用六级电流范围设置，将可以接收的误差降到低点；范德堡法则转换使用非接触装置有效降低仪器噪声；软硬件有针对性的设计，确保每个实验数据均为多次测试的平均值，使仪器拥有非常好的数据重现性。
产品小型化及操作简单化
小尺寸的磁场强度输入系统使用永磁体和液氮低温测量系统（77K),确保仪器操作非常简单；两种不同尺寸的传统样品板（20*20mm、5*5mm)及带弹簧夹片的样品板（SPCB),使得不同尺寸不同材料的薄膜样品更容易测量，区别于传统样品板的弹簧夹片样品板使得霍尔电极制作更方便且对样品损伤更小。
I-V曲线及I-R曲线
I-V曲线及I-R曲线测量采用图表的方式，测量探针四点（A、B、C、D)间电流－电压及电流－电阻关系，并以此评判样品的欧姆接触好坏、了解样品的基本的电学特性。
多样的实验结果
HMS系列仪器获得多项霍尔效应测量系统、测量方法的专利，代表了霍尔效应测量的品质及合理的产品价格，并为全球客户所认可。
•体载流子浓度（Bulk CarrierConcentration)
•表面载流子浓度（Sheet Carrier Concentration)
•迁移率（Mobility)
•电阻率（Resistivity)
•霍尔系数（Hall Coefficient)
•磁致电阻（Magnetoresistance)
•电阻的纵横比率（Vertical/Horizontal ratio of resistance)
