操作简单、灵敏度高
BLS-I and BCT-400测量系统对于单晶硅或多晶硅（硅锭或硅块）不需要进行表面钝化就可以进行寿命测量。因为寿命测量是描述生长特征和污染缺陷灵敏度先进的技术，这些工具允许你评估硅生长后的质量。
性能优越
非接触方式量测真正意义上的硅块少子寿命，符合SEMI的PV13标准；相比业界其他少子寿命测试仪BLS-I/BCT系列是性能更优越的少子寿命测试仪。
多型号选择
如果想要设备能够测量多种的表面类型（150mm直径到平滑的）请选BLS-1.如果是仅需要测量平滑表面，请选择BCT-400.
BCT400/BLS-1应用
厂商品质监控常见的测量设备，拥有广泛客户群
•测量寿命在1-5ms(豪秒）范围内的高纯度硅
•测量没有进行特殊表面处理的原生直拉硅
•测量多晶硅块的寿命和俘获浓度
•探测氧化硼缺陷，铁污染，和表面损害
•测试直拉硅，区熔硅，多晶硅或高纯冶金硅的初始原料质量
