WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术，包括半标准准稳态光电导系数（QSSPC)测量方法，该方法由Sinton公司在1994年研发。
载流子合复寿命经过准确校准的测量方式，广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。
独特的瞬态光电导技术
QSSPC技术对于监测多晶硅硅片，掺杂剂的扩散，和低寿命样本是理想的技术。这种方法补充了瞬态光电导技术的运用。瞬态光电导技术在这台设备上也是标准的。
QSSPC寿命测量
QSSPC寿命测量也产生隐含的开路电压（与lllumination)曲线，这可以与an1-v曲线在太阳能电池过程的各个阶段进行比较。
优秀的软件数据处理系统
Sinton设备的分析能为每个晶片产生校准载流子注入水平，所以你可以以一个物理上的方式解读寿命数据。每次测量都会显示和记录特定的参数。
WCT系统功能
单击即可锁定晶硅片的关键参数，包括方块电阻、少子寿命、陷阱密度、发射极饱和电流密度和暗电压
•制造过程的逐步监测和优化
•监测初始材料质量
•晶片加工过程中检测重金属杂质
•评估表面钝化和发射极掺杂扩散
•使用隐含V测量评估过程引起的分流
